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[00218730]光电综合实验测试方法

交易价格: 面议

所属行业: 光机电一体化

类型: 发明专利

技术成熟度: 可规模生产

专利所属地:中国

专利号:ZL200510136070.0

交易方式: 技术转让

联系人: 付蓉

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所在地:天津天津市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
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技术详细介绍

  本发明属于光、机、电、算结合型的光电综合实验测试方法。由功能电路板构成的光电综合实验,对同步逻辑信号的各项参数进行设置,并启动设备开始工作,然后进入等待状态,等待硬件申请中断,硬件在设置参数并启动后进行多通道同步的A/D转换,并将转换结果存入存储器内,然后计数,如果计数器的值达到设置的数值则申请中断,否则继续A/D转换,当硬件产生中断请求后,计算机系统响应请求,并开始传输数据、显示波形。

  详细用途:本发明的目的是通过光电综合实验平台,提供光电综合实验测试方法,实现多路同步示波功能和晶体管、光电耦合器件与各种光电器件的伏安特性测试功能。

  效益说明:本发明是理工科大学实验教学的重要平台。通过试验平台提供的各种光电器件在实验指导书与实验指导教师的指导下完成各种规范的实验与创造性的设计实验。

  该技术产品可以量产,年产值过百万。

  本发明属于光、机、电、算结合型的光电综合实验测试方法。由功能电路板构成的光电综合实验,对同步逻辑信号的各项参数进行设置,并启动设备开始工作,然后进入等待状态,等待硬件申请中断,硬件在设置参数并启动后进行多通道同步的A/D转换,并将转换结果存入存储器内,然后计数,如果计数器的值达到设置的数值则申请中断,否则继续A/D转换,当硬件产生中断请求后,计算机系统响应请求,并开始传输数据、显示波形。

  详细用途:本发明的目的是通过光电综合实验平台,提供光电综合实验测试方法,实现多路同步示波功能和晶体管、光电耦合器件与各种光电器件的伏安特性测试功能。

  效益说明:本发明是理工科大学实验教学的重要平台。通过试验平台提供的各种光电器件在实验指导书与实验指导教师的指导下完成各种规范的实验与创造性的设计实验。

  该技术产品可以量产,年产值过百万。

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