[00274629]辐射环境中基于BBM模型下多波长EDFA噪声系数的测量方法
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所属行业：
通信
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201410354001.6
交易方式：
技术转让
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联系人：
南京大学
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所在地：江苏南京市
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技术详细介绍
本发明公开了辐射环境中基于BBM模型下多波长EDFA噪声系数的测量方法，现有辐射环境中测试噪声系数需要测试较多参数，要求在每个剂量点都需要停止辐射，测量时间较长，无法得到准确的测试结果。本发明将BBM模型引入到辐射环境中，利用掺铒光纤放大器(EDFA)中增益与噪声系数的关系，得到掺铒光纤放大器在1540~1560nm波段上噪声系数随输入光信号功率变化的预测方程。本发明只需测量很少参数就可以实现对噪声系数随输入功率变化情况的预测，克服了时间受限的问题，避免了由于光纤的恢复作用所带来的测量误差即提高了测量的准确度。
本发明公开了辐射环境中基于BBM模型下多波长EDFA噪声系数的测量方法，现有辐射环境中测试噪声系数需要测试较多参数，要求在每个剂量点都需要停止辐射，测量时间较长，无法得到准确的测试结果。本发明将BBM模型引入到辐射环境中，利用掺铒光纤放大器(EDFA)中增益与噪声系数的关系，得到掺铒光纤放大器在1540~1560nm波段上噪声系数随输入光信号功率变化的预测方程。本发明只需测量很少参数就可以实现对噪声系数随输入功率变化情况的预测，克服了时间受限的问题，避免了由于光纤的恢复作用所带来的测量误差即提高了测量的准确度。
