[00281130]一种分析检测磁介质磁力捕获磁性颗粒特征的方法
交易价格：
面议
所属行业：
其他机械
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201610061835.7
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
昆明理工大学
进入空间
所在地：云南昆明市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本发明涉及一种分析检测磁介质磁力捕获磁性颗粒特征的方法，属于高梯度磁选技术领域。由介质丝组成若干单元介质模块制备得到任意可拆卸式磁介质；将得到的任意可拆卸式磁介质放入高梯度磁选机的分选腔内完成高梯度磁选过程；完成后停止给料保持磁场和流场，降低液位使分选区的磁介质从流体中慢慢露出，同时向磁介质通入冷气，将暴露的介质丝表面积聚的磁性颗粒快速冷却固定，当磁介质全部露出并被完全冷却后，去除磁场，取出磁介质，在低温环境下拆除单元介质模块，得到介质单丝，并置于保冷设备中；将得到的介质单丝进行分析检测，获得磁介质磁力捕获的真实特征。本发明解决单元介质分析法应用的磁介质捕获特征“失真”问题。
本发明涉及一种分析检测磁介质磁力捕获磁性颗粒特征的方法，属于高梯度磁选技术领域。由介质丝组成若干单元介质模块制备得到任意可拆卸式磁介质；将得到的任意可拆卸式磁介质放入高梯度磁选机的分选腔内完成高梯度磁选过程；完成后停止给料保持磁场和流场，降低液位使分选区的磁介质从流体中慢慢露出，同时向磁介质通入冷气，将暴露的介质丝表面积聚的磁性颗粒快速冷却固定，当磁介质全部露出并被完全冷却后，去除磁场，取出磁介质，在低温环境下拆除单元介质模块，得到介质单丝，并置于保冷设备中；将得到的介质单丝进行分析检测，获得磁介质磁力捕获的真实特征。本发明解决单元介质分析法应用的磁介质捕获特征“失真”问题。
